标题：宽温恒温晶振
产品概述
小型化、低年老化率、宽温恒温晶振
该产品是一款尺寸为14.2*9.2*6.5mm的小型化、SMD、OCXO。温度稳定性优于5ppb，日老化优于±1ppb。广泛应用于基站、广播、通信、仪器仪表、微波、时频参考、Picocell、CPE-PTN、调度系统、集群等。宽温恒温晶振
●小型化、SMD
●温度稳定度≤+5ppb（-40~85℃）
●老化≤±1ppb
技术指标
| 项目 | 技术指标 | |
| 性能指标 | 频率 | 5M~100MHz |
| 工作电压 | 3.3V、5.0V | |
| 波形 | Sine Wave/HCMOS | |
| 温度稳定度 | ±5ppb(-40~+85℃)@10M | |
| 启动功耗 | <2W | |
| 稳定功耗 | <0.6W | |
| 启动时间 | <3min | |
| 电压控制特性 | 线性<3% | |
| 正斜率 | ||
| 相噪(@10M) | 10Hz | -105dBc/Hz |
| 100Hz | -130dBc/Hz | |
| 1kHz | -150dBc/Hz | |
| 10kHz | -155dBc/Hz | |
| 100kHz | -160dBc/Hz | |
| 1MHz | -160dBc/Hz | |
| 工作环境 | 可工作稳定 | -40°C~85°C |
| 储存湿度 | -55°C~105°C | |
| 振动 | 测试条件：振幅：0.75mm（5~26HZ）；加速度：10g；10Hz~500Hz；30min一个循环，每个方向测试2小时（3个方向，×、Y和Z），IEC68-2-06 Test Fc。 | |
| 冲击 | 50g；11ms；半正弦波（3个方向，×、Y和Z），IEC68-2-27TestEa/Severity 50A | |
| 尺寸 | 14.2*9.2*6.5mm | |
| 重量 | 2.6g | |
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